可控硅光耦測試儀功能介紹�
可控硅測試儀(又名:系列塑封可控�、可控硅光耦測試儀)是一種的�(shù)字顯示式多功能半自動可控硅和可控硅光電耦合器參�(shù)測試裝置�
1.它可以測量小至TO-92封裝大至TO-3P封裝的電流等的塑封單、雙向可控硅(晶閘管��
2.�(shè)�(jì)�0-1O00uA的觸�(fā)電流量程,可以直接測量MCR100-6等微安觸�(fā)電流的可控硅�
3.可以測量DIP-6.DIP-4封裝的過零和非過零檢測可控硅輸出的光電耦合器和DIP-6封裝的單向可控硅輸出的光電耦合��
4.可以測量200A以下的螺銓型�、雙向可控硅和可控硅組合模塊�
5.測試觸發(fā)電流和觸�(fā)電壓時人工調(diào)節(jié),可控硅插入測試座后儀器會自動的調(diào)節(jié)至觸�(fā)�,并�(wěn)定的顯示觸發(fā)電流IGT/觸發(fā)電壓VGT�
6.測試可控硅耐壓參數(shù)時只需性調(diào)節(jié)好高輸出電壓�,以后每測一個管子只要按下高壓按鈕即可顯示該可控硅的耐壓��
� 可控硅測試儀主要用于可控硅使用廠家對可控硅元件的檢驗(yàn)、參�(shù)的配�、可控硅�(shè)備的維修之用� 可控硅測試儀還可以的�(yīng)用于對多種電子元器件的高低壓耐壓的測�。儀器外型美觀、性能�(wěn)�、測量準(zhǔn)確、使用方��
可控硅光耦測試儀測試功能�
1.系列單雙向塑封可控硅觸發(fā)電流IGT、觸�(fā)電壓VGT的測試,正反向不重復(fù)峰值電壓VDSM/VRSM的測�,正反向重復(fù)峰值電壓VDRM/VRRM的測��
2.DIP-6、DIP-4封裝的過零和非過零檢測可控硅輸出的光電耦合器和DIP-6封裝的單向可控硅輸出的光電耦合器輸入LED端IFT/VFT的測�,輸出端可控硅正反向不重�(fù)峰值電壓VDSM/VRSM的測�,正反向重復(fù)峰值電壓VDRM/VRRM的測��
3.電流�200A以內(nèi),VDSM/VRSM�2KV以內(nèi),觸�(fā)電流�120mA以內(nèi)的螺銓型�、雙向可控硅和可控硅組合模塊的觸�(fā)電壓IGT、觸�(fā)電流VGT的測�,正反向不重�(fù)峰值電壓VDSM/VRSM的測試,正反向重�(fù)峰值電壓VDRM/VRRM的測��
4.2KV以內(nèi)的二�、三�、達(dá)林頓�、整流橋、MOS場效�(yīng)管、IGBT及模塊的耐壓測試�
5.2KV以內(nèi)的壓敏電�、穩(wěn)壓管、雙向觸�(fā)二管等電壓值的測試
可控硅光耦測試儀指標(biāo)�
可控硅觸�(fā)電流IGT測量范圍�6-1000uA,0-10.00mA,0-100.0mA;精�≤3%
可控硅觸�(fā)電壓VGT測量范圍�0-5V;精�≤5%
可控硅光耦輸入端LED觸發(fā)電流IFT測量范圍�0-10.00mA, 0-100.0mA;精�≤3%
可控硅光耦輸入端LED觸發(fā)電壓VFT測量范圍�0-3V;精�≤5%
可控硅和可控硅光耦輸出端,正反向不重�(fù)峰值電壓VDSM/VRSM測量范圍�0-2KV;精�≤3%
可控硅和可控硅光耦輸出端,正反向重復(fù)峰值電壓VDRM/VRRM測量范圍�0-1.6KV;精�≤5% |