微波光電�(dǎo)載流子復(fù)合壽命測(cè)試產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
微波光電�(dǎo)載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀是參照半�(dǎo)體設(shè)備和材料SEMI�(biāo)�(zhǔn)MF1535-0707及標(biāo)�(zhǔn)GB/T 26068-2010�
微波光電�(dǎo)載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀采用微波反射�(wú)接觸光電�(dǎo)衰退�(cè)量方�,適用于硅塊少數(shù)載流子壽命的�(cè)量,壽命�(cè)量可反映半導(dǎo)體重金屬污染及缺陷存在的情況,是半導(dǎo)體的重要檢測(cè)�(xiàng)��
微波光電�(dǎo)載流子復(fù)合壽命測(cè)試參�(shù)�
讀�(shù)方式:數(shù)字直讀
壽命�(cè)量范圍:0.25μs-10ms
樣品電阻率下�>0.5Ω·cm
高頻光電�(dǎo)少數(shù)載流子壽命測(cè)試儀備注�WJ-100B型微波光電導(dǎo)載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀用于�(cè)量棒狀樣品,測(cè)量片狀樣品選用WJ-100A型微波光電導(dǎo)載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀� |