少子壽命測定儀�(chǎn)品簡介:
高頻光電�(dǎo)少數(shù)載流子壽命測試儀儀器采用GB/T1553-1997中硅單晶少數(shù)載流子壽命測定高頻光電導(dǎo)衰減�,主要用于測量高阻長壽命單晶,現(xiàn)在已�(jīng)在半�(dǎo)體材料有限公�、研究所、峨嵋半�(dǎo)體材料廠、半�(dǎo)體材料有限公司等投入使用�
少子壽命測定儀參數(shù)�
測試單晶電阻率范圍:ρ�2Ω•cm
可測單晶少子壽命范圍�5μs~10000μs
紅外光源配置� 波長1.06�1.09μm
儀器測量重�(fù)誤差:﹤±25%
測量方式:采用數(shù)字示波器直接讀�(shù)方式
消耗功率:�50W
工作條件�
� 度:10-35�
� 度:�65%
使用電源:AC220V 50HZ(建議配置穩(wěn)壓電源)
可測單晶尺寸�
斷面豎測�
� 徑:25mm-150mm
� 度:2mm-500mm
縱向臥測�
� 徑:5mm-20mm
� 度:50mm-800mm
高頻振蕩源:用石英諧振器,振蕩頻�30MHZ
前置放大�,放大倍數(shù)�25,頻�2HZ-2MHZ
可根�(jù)已知壽命樣品�(diào)校測量壽命�,可�(diào)范圍� |