硅材料測(cè)試儀�(jiǎn)介:
硅材料電阻率�(cè)試儀是運(yùn)用四探針�(cè)量原理的多功能綜合測(cè)試裝置,它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率,適用于半導(dǎo)體及太陽能行�(yè)的硅�,硅棒硅塊硅片的電阻率型號(hào)�(cè)��
硅材料電阻率�(cè)試儀體積�,精度高,測(cè)量范圍寬,運(yùn)用四探針原理能夠�(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO�(dǎo)電箔�、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻。本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半�(dǎo)體器件廠、科研單�、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能�(cè)試�
硅材料測(cè)試儀特點(diǎn)�
適中的體積和便攜�,便攜式,使�9V供電�
操作�(jiǎn)�,測(cè)試快��
同時(shí)檢測(cè)硅半�(dǎo)體材料的電阻率和型號(hào)兩項(xiàng)指標(biāo)�
硅材料電阻率�(cè)試儀采用220V交流電源供電硅材料綜合測(cè)試儀�
擁有較高的電阻率�(cè)試分辨率,小可到0.001 歐姆.厘米”�
能的分辨電阻率在0.002 歐姆.厘米以上的硅半導(dǎo)體材料型�(hào)�
立的P/N 型重?fù)礁婢O(shè)�,便于工廠大�(guī)??焖龠x��
具有電阻率及型號(hào)�(cè)試功能,適合分選型號(hào),并能夠�(cè)試并顯示出電阻率的值�
�(yù)�(shè)樣片厚度,自�(dòng)修正,直讀電阻�
�(bào)警門限預(yù)�(shè)0-1.0,按0.1步�(jìn)�0不報(bào)�
整機(jī)尺寸�92×140×24 mm
電阻�:0.01-50歐姆厘米
P/N型號(hào):0.1歐姆厘米<電阻�<500歐姆厘米 |